Testram RFID綜合測(cè)試儀T8200UD 

RFID綜合測(cè)試儀T8200UD是針對(duì)近場(chǎng)非接觸式IC卡、天線（基于ISO/IEC14443 Type A，Type B，ISO/IEC18092 Passive Mode即Type C索尼的Felica卡），以及非接觸IC卡（ISO/15693Tag-It，I-CODE SLI)，IC標(biāo)簽的共振頻率，Q值和插入損耗（insertion loss）進(jìn)行檢測(cè)，根據(jù)設(shè)定值判定待測(cè)物PASS/FAIL的設(shè)備。

檢測(cè)頻率：500KHz  ～ 300MHz

測(cè)定項(xiàng)目：不同的制品，通過制作對(duì)應(yīng)的檢測(cè)天線，可以檢查各式制品

○ 共振頻率                                 ○非接觸式IC卡

○ 衰減量                                   ○NFC搭載的制品

○ Q值                                      ○著裝芯片之前的RFID天線

通過設(shè)定各個(gè)待測(cè)項(xiàng)目的設(shè)定值進(jìn)行檢測(cè)，并可以通過保存測(cè)量特性波形及測(cè)定值，管理RFID產(chǎn)品的品質(zhì)。