惠普HP4339B高阻測(cè)試儀

產(chǎn)品特點(diǎn)：
＊測(cè)量范圍寬：1×103 ～1.6×1016Ω
＊測(cè)試夾具穩(wěn)定：比電阻盒，元件測(cè)試夾具
＊測(cè)量速度高：10ms
＊按測(cè)試順序編程
＊計(jì)算電阻率
＊被測(cè)器件可接地測(cè)量

規(guī)格
測(cè)量參數(shù)：R（直流電阻），I（直流電流），ps（表面電阻率），pv（體電阻率）
數(shù)學(xué)功能：偏差和百分偏差
顯示數(shù)字：3，4或5位（可選擇）
測(cè)試電壓：0.1 ～ 1000Vdc
0.1 ～ 200Vdc時(shí)，以0.1V步進(jìn)
0.1 ～ 1000Vdc時(shí)，以1V步進(jìn)
電壓精度：≤200V時(shí)為0.16％+100mV
＞200V時(shí)為0.16％+500mV
大電流：≤100V時(shí)為10mA；≤250V時(shí)為5mA
≤500V時(shí)為2mA；≤1000V時(shí)為1mA
電流相容性調(diào)定：0.5mA,1mA,2mA,5mA,10mA
輸出電阻：1KΩ±10％
輸入電阻：1KΩ±10％
測(cè)試電纜長(zhǎng)度：2 m?。ù笾担?br /> 測(cè)量范圍和精度：
直流電流：60fA～100uA 基本精度：±0.4％
直流電阻：1×103 ～1.6×1016Ω　基本精度：±0.6％
測(cè)量時(shí)間：短：10ms；中：30ms；長(zhǎng)：390ms
修正功能：
開(kāi)路誤差為0：消除由測(cè)試夾具中雜散寄生電阻引起的測(cè)量誤差
測(cè)試序列程序：控制一系列電阻測(cè)量。充電時(shí)間、測(cè)量間隔時(shí)間和測(cè)量次數(shù)可以編程。
比較功能：對(duì)測(cè)量參數(shù)設(shè)立高/符合/低界限

本公司回收以下品牌各類儀器：

NI (美國(guó)國(guó)家儀器)、Tektronix泰克、HP/Agilent/Keysight（惠普/安捷倫/是德）、Keithley（吉時(shí)利）、KIKUSUI（菊水）、Panasonic（松下）、MINOLTA（美能達(dá)）、Anritsu（安立）、 ADVANTEST（愛(ài)德萬(wàn)）、FLUK(福祿克)、MARCONI（馬克尼）、R/S（羅德&施瓦茨）、Chroma(致茂/可羅馬) 、Prodigit(博計(jì)) 、Extech(華儀)、JDSU(捷迪訊）、Ando（安騰）、Aeroflex（艾法斯）、ITECH(艾德克斯)、STANFORD（斯坦福）、Lambda（電盛蘭達(dá)）、YOKOGAWA（橫河）、EMCSOSIN（索莘）、RIGOL（普源）、IQ（萊特波特）、Lecroy（力科）、SUNLILAB（陽(yáng)光）、Prima（普銳馬）、TOPCON（拓普）、SPIRENT(思博倫）、3ctest（泰斯特）、CYBERTEK(知用）、SHIBASOKU（芝測(cè)）、HAMEG（惠美）、TEXIO（德士）、EXFO（愛(ài)斯福）、GWINSTEK （固緯）

回收類別：

網(wǎng)絡(luò)分析儀、頻譜分析儀、綜合測(cè)試儀、示波器、信號(hào)發(fā)生器、信號(hào)分析儀、色彩分析儀、數(shù)字通訊測(cè)試儀、高頻信號(hào)源、頻率計(jì)、功率計(jì)、音頻分析儀、電源、數(shù)字源表、天饋線測(cè)試儀、光譜分析儀、噪聲系數(shù)分析儀、數(shù)字萬(wàn)用表、靜電計(jì)/高阻表、函數(shù)信號(hào)發(fā)生器、LCR測(cè)試儀、電子負(fù)載、納伏表/皮安表、多用表校準(zhǔn)儀、廣播電視測(cè)試儀、高壓機(jī)/耐壓測(cè)試儀、NI機(jī)箱/模塊/控制器、 直流電源分析儀/模塊、數(shù)據(jù)采集器、邏輯分析儀、晶體管測(cè)試儀、調(diào)制度分析儀、藍(lán)牙測(cè)試儀、阻抗分析儀、視頻分析儀、光波測(cè)量系統(tǒng)、阻抗測(cè)試治具及附件、衰減器、探頭、RoHS/環(huán)保檢測(cè)儀、耦合板等等。