威訊科技粒子金屬雜質(zhì)檢測
OCSX-射線粒子掃描儀(XP7)能檢測出高度透明和不透明顆粒中的金屬缺陷，從而提高聚合物的產(chǎn)品質(zhì)量。XP7測量系統(tǒng)中創(chuàng)新的X射線技術(shù)可實(shí)時(shí)分析粒子流的圖像。由于金屬和聚合物對X射線的吸收不同，嵌入的50微米以上的金屬顆粒可被檢測出來。缺陷顆粒被一個(gè)多軌道空氣噴嘴系統(tǒng)分揀出來。
可測試的原材料
■高透明粒子
■不透明粒子
X-射線粒子掃描儀(XP7)特點(diǎn)
■高分辨率的X射線圖像
■處理量可達(dá)600公斤/小時(shí),根據(jù)具體材料性能差異而不同
■符合設(shè)備全面保護(hù)的技術(shù)要求
■結(jié)果實(shí)時(shí)可視化顯示
■用于分揀缺陷顆粒的多軌道空氣噴嘴系統(tǒng)
對于粒子金屬雜質(zhì)檢測，以下是一些常見的方法：
1. 化學(xué)分析法：通過化學(xué)反應(yīng)將金屬雜質(zhì)轉(zhuǎn)化為可測量的物質(zhì)，然后使用各種分析方法（如重量法、滴定法、光譜法等）進(jìn)行測量。這種方法可以測量出雜質(zhì)元素的含量，但是操作復(fù)雜，需要專業(yè)人員操作，且無法測量非金屬雜質(zhì)。
2. 物理法：利用金屬雜質(zhì)與粒子的物理性質(zhì)（如導(dǎo)電性、磁性、密度等）的差異進(jìn)行分離。常見的有電選、磁選、浮選等。這種方法可以去除大部分金屬雜質(zhì)，但是對于非金屬雜質(zhì)則無法去除。
3. 儀器分析法：利用各種高精度的儀器對粒子中的金屬雜質(zhì)進(jìn)行檢測。如原子吸收光譜儀、原子熒光光譜儀、電感耦合等離子體光譜儀等。這些儀器可以快速準(zhǔn)確地測量出雜質(zhì)元素的含量，但是價(jià)格昂貴，需要專業(yè)人員操作。
粒子金屬雜質(zhì)檢測
https://www.cn-visiontech.cn/Products-37969401.html
https://www.chem17.com/st101753/product_37969401.html