Chroma 19301A 脈沖測(cè)試器  求購(gòu)
Chroma/致茂臺(tái)灣19301A繞線元件脈沖測(cè)試器主要特點(diǎn)：

高低感量測(cè)試應(yīng)用(0.1uH~100uH)
10V~1000V脈沖測(cè)試電壓,0.25V測(cè)量解析度
高速測(cè)量 120mS(Pulse 1.0,標(biāo)準(zhǔn)充電時(shí)間)
具備電感測(cè)量接觸檢查功能
具備電感差異電壓補(bǔ)償功能
脈沖測(cè)試高取樣率(200MHz),10bits
崩潰電壓分析功能
低電壓量測(cè)檔位,提高波形分析靈敏度(32V/64V/128V/256V/512V/1024V)
繁中/ 簡(jiǎn)中 / 英文操作介面
USB波形儲(chǔ)存與畫(huà)面擷取功能
圖形化彩色顯示
標(biāo)準(zhǔn)LAN,USB,RS232介

Chroma/致茂臺(tái)灣19301A繞線元件脈沖測(cè)試器產(chǎn)品描述：

Chroma 19301為繞線元件脈沖測(cè)試器，結(jié)合了 高低感量測(cè)技術(shù)應(yīng)用，擁有1000Vdc脈沖電壓與 200MHz高速取樣率，可提供0.1uH~100uH 大范圍 感量產(chǎn)品測(cè)試滿足大部份功率電感測(cè)試需求， 擁有波形面積比較、波形面積差比較、波形顫動(dòng) 偵測(cè)(FLUTTER)及波形二階微分偵測(cè)(LAPLACIAN) 等判定方法，可有效檢測(cè)線圈自體不良。

繞線元件于生產(chǎn)檢測(cè)包含電氣特性、電氣安規(guī) 耐壓進(jìn)行測(cè)試，而線圈之自體不良通常是 造成線圈于使用環(huán)境中發(fā)生層間短路、出腳短路 之根源。其形成原因可能初始設(shè)計(jì)不良、 molding加工制程不良，或材料之劣化等所 引起，故加入線圈層間短路測(cè)試有其必要性。

Chroma 19301為針對(duì)繞線元件測(cè)試需求所設(shè)計(jì)， 利用一高壓充電之微小電容(測(cè)試能量低)與待測(cè) 線圈形成RLC并聯(lián)諧振，由振蕩之衰減波形，透 過(guò)高速且精密的取樣處理分析技術(shù)，可檢驗(yàn)出線 圈自體之不良，提供功率電感元件進(jìn)行繞線 品質(zhì)及磁芯之耐壓測(cè)試，讓元件生產(chǎn)廠商及使用 者能更有效的為產(chǎn)品品質(zhì)把關(guān)。

Chroma 19301應(yīng)用于低感量繞線元件測(cè)試，感量可達(dá)0.1uH，針對(duì)低感量測(cè)試特性提供四線 式測(cè)量、接觸檢查功能、電感檢查與電壓補(bǔ)償功 能，可避免因待測(cè)物感量變化大或配線等效電感 而造成測(cè)試電壓誤差大，為低感量繞線元件脈沖 測(cè)試?yán)鳌?br />
Chroma 19301于自動(dòng)化生產(chǎn)上應(yīng)用，擁有超高速 測(cè)量速度有效縮短測(cè)試時(shí)間提升生產(chǎn)效率，且電 壓補(bǔ)償功能改善了自動(dòng)化機(jī)臺(tái)配線等效電感之影 響。

全新的人機(jī)操作介面，整合圖形化彩色顯示并提 供畫(huà)面擷取功能，透過(guò)前面板USB儲(chǔ)存波形，不 僅適用于生產(chǎn)現(xiàn)場(chǎng)，更可應(yīng)用于研發(fā)、品保單位 使用進(jìn)行樣品分析比對(duì)，大幅提升操作便利性。

量測(cè)技術(shù)-脈沖測(cè)試概論與原理

所謂的『繞線元件脈沖測(cè)試』基本上是以一『非破壞性』、高速、低能量之電壓脈沖施加在待測(cè)物上，以一脈沖電壓加于并聯(lián)線圈的振蕩電容(Cs)上，使 并聯(lián)電容與線圈產(chǎn)生LCR振蕩，觀察振蕩衰減情況來(lái)了解線圈內(nèi)部狀態(tài)，包含線圈自體之線圈感量及并聯(lián)電容量(Cw)等狀態(tài)(如圖1: 測(cè)試等效電路圖 ) ，再藉由分析／比對(duì)待測(cè)物良品與不良品之等效波形以達(dá)到判定良否之目的。繞線元件脈沖測(cè)試主要功能乃在早期發(fā)現(xiàn)繞線元件中各種潛在之缺陷，例 如：繞線層間短路、電極焊接不良、內(nèi)部線圈或磁芯，不良等。